一：
光學(xué)測(cè)量平臺(tái)技術(shù)百科
問(wèn)題1：光學(xué)測(cè)量?jī)x的參數(shù)和型號(hào)有哪些?
光學(xué)測(cè)量平臺(tái)答：通常立式光學(xué)計(jì)是用比較法測(cè)量，儀器的測(cè)量范圍是指儀器保證精度的有效測(cè)量范圍。刻度值示值范圍就是測(cè)量精度的細(xì)分，主要精度就是在刻度尺上的分劃刻線。
問(wèn)題2：光學(xué)測(cè)量?jī)x器原理的功用是什么?
答：光學(xué)三維傳感是信息光學(xué)中一個(gè)重要的研究領(lǐng)域,采用結(jié)構(gòu)照明的三維傳感方法,包括位相測(cè)量輪廓術(shù)(PhaseMeasurementProfilometry,簡(jiǎn)稱(chēng)PMP)、傅立葉變換輪廓術(shù)(FourierTransformProfilometry,簡(jiǎn)稱(chēng)FTP)、調(diào)制度測(cè)量輪廓術(shù)(Modulation。
問(wèn)題3：光學(xué)三維測(cè)量?jī)x專(zhuān)家類(lèi)型
答：對(duì)于光學(xué)三維測(cè)量?jī)x專(zhuān)家的類(lèi)型1三維光學(xué)影像測(cè)量?jī)x：三維影像測(cè)量?jī)x，用于測(cè)量三維幾何尺寸和形位公差的高精度測(cè)量?jī)x器。2三維激光掃描測(cè)量?jī)x：三維激光掃描技術(shù)是上近期發(fā)展的一項(xiàng)高新技術(shù)。隨著三維激光掃描儀在工程領(lǐng)域的。
問(wèn)題4：怎么用光學(xué)水平儀測(cè)量
光學(xué)測(cè)量平臺(tái)答：在設(shè)備的安裝工程項(xiàng)目實(shí)施中用于連續(xù)生產(chǎn)線設(shè)備測(cè)量控制網(wǎng)標(biāo)高基準(zhǔn)點(diǎn)的測(cè)設(shè)及安裝過(guò)程中對(duì)設(shè)備安裝標(biāo)高的控制測(cè)量。3光學(xué)水準(zhǔn)儀的組成主要由目鏡、物鏡、水準(zhǔn)管、制動(dòng)螺旋、微動(dòng)螺旋、校正螺絲、腳螺旋及專(zhuān)用三腳架等組成。4。
問(wèn)題5：aoi自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)是做什么的
答：自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)（AOI）是印刷電路板制造的自動(dòng)視覺(jué)檢測(cè)，其中相機(jī)自動(dòng)掃描被測(cè)設(shè)備的災(zāi)難性故障（例如缺少組件）和質(zhì)量缺陷。它通常用于制造過(guò)程，因?yàn)樗且环N非接觸式測(cè)試方法。這保證了Multi-CB多層電路板的高可靠性。鐳晨。
問(wèn)題6：光學(xué)測(cè)繪儀能不能測(cè)量距離?能的話原理是什么?
答：福爾創(chuàng)影像測(cè)繪儀系列是新一代的測(cè)量及繪圖儀器，在傳統(tǒng)投影機(jī)的基礎(chǔ)上跨出了一大步，克服了投影機(jī)的局限性問(wèn)題。該儀器利用影像將被測(cè)產(chǎn)品反應(yīng)到電腦里，將其數(shù)字化，達(dá)到快速精準(zhǔn)，直觀，方便的測(cè)量和繪圖。其測(cè)量。
問(wèn)題7：光學(xué)影像測(cè)量?jī)x和三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)哪個(gè)好
答：它們倆個(gè)，是不同的概念,也是互補(bǔ)的．光學(xué)影像測(cè)量?jī)x可以測(cè)量的例如:比如說(shuō)紙上的一個(gè)圓,或者是易拉罐開(kāi)口處的兩個(gè)相切圓,以及深度但是要你測(cè)量易拉罐上端到下端圓弧的距離就要用三坐標(biāo)了．三坐標(biāo)在機(jī)械加工上面用的比較多。
問(wèn)題8：光學(xué)測(cè)量
答：是問(wèn)在專(zhuān)業(yè)領(lǐng)域的工作中的應(yīng)用吧。影響光速的因素對(duì)應(yīng)的物理量可以通過(guò)測(cè)光速而間接得到。比如折射率影響光速，那就可以測(cè)量空氣折射率；再比如裝置之間有位移的話，還可以根據(jù)多普勒效應(yīng)測(cè)移動(dòng)速度。
問(wèn)題9：光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x可用于測(cè)量哪些材料?
答：光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x采用白光軸向色差原理（性能優(yōu)于白光干涉輪廓儀與激光干涉輪廓儀）對(duì)樣品表面進(jìn)行快速、重復(fù)性高、高分辨率的三維測(cè)量，測(cè)量范圍可從納米級(jí)粗糙度到毫米級(jí)的表面形貌，臺(tái)階高度，給MEMS、半導(dǎo)體材料、太陽(yáng)能電池。
問(wèn)題10：光學(xué)測(cè)量?jī)x能否用于絕對(duì)測(cè)量?
光學(xué)測(cè)量平臺(tái)答：應(yīng)該可以，前提是不計(jì)人為誤差，光學(xué)測(cè)量?jī)x絕對(duì)測(cè)量值你要到當(dāng)?shù)赜?jì)量部門(mén)對(duì)儀器校正補(bǔ)償，或者給你此儀器的修正表就可以了。
二：
光學(xué)測(cè)量平臺(tái)技術(shù)資料
問(wèn)題1：光學(xué)性能檢測(cè)包含哪些檢測(cè)項(xiàng)目?
答：光學(xué)性能是一個(gè)大指標(biāo)，它是由太陽(yáng)能透過(guò)率太陽(yáng)能反射率、太陽(yáng)能吸收率、可見(jiàn)光透射率、可見(jiàn)光反射率、總太陽(yáng)能阻隔率、紫外線阻隔率、遮蔽系數(shù)、U-值等小指標(biāo)組成。光線射到紙、塑料、玻璃、金屬等材料時(shí)顯示出正常的。
問(wèn)題2：光學(xué)測(cè)量?jī)x器前景
光學(xué)測(cè)量平臺(tái)答：光纖技術(shù)，制造更適合光信息傳播的高效率光纖。3，成像技術(shù)：ccd等一系列光學(xué)接受裝置，用了進(jìn)行信號(hào)分析。全系技術(shù)，實(shí)現(xiàn)真正的3維立體照相。4，探測(cè)技術(shù)，光學(xué)制導(dǎo)，光學(xué)測(cè)量，可用于很多物理量的測(cè)量，微粒結(jié)構(gòu)，長(zhǎng)度測(cè)量。
問(wèn)題3：現(xiàn)代光學(xué)元件的檢測(cè)方法有哪些?
答：焦距與星點(diǎn)測(cè)量，分辨率測(cè)量，幾何像差測(cè)量，波像差檢驗(yàn)，透過(guò)率測(cè)量，像面照度測(cè)量，雜光系數(shù)測(cè)量，光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量五、光源和接收器、激光參量和波面質(zhì)量的檢測(cè)等方面也都屬于光學(xué)檢測(cè)范圍。另外，還有非光學(xué)量用光學(xué)測(cè)量。
問(wèn)題4：光學(xué)影像測(cè)量?jī)x與投影儀有什么區(qū)別?誰(shuí)來(lái)幫我解釋下,謝謝!
答：投影儀只能測(cè)量一些簡(jiǎn)單的數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)只能自己記錄，而光學(xué)影像測(cè)量?jī)x的話可以測(cè)量很多尺寸，只要是二維的產(chǎn)品都可以測(cè)量，而且數(shù)據(jù)還能用表格和word/CAD的格式保存，測(cè)量情況可以拍照保存等等，比投影儀的功能強(qiáng)大。如果有什么其他。
問(wèn)題5：光學(xué)原位組合測(cè)量
光學(xué)測(cè)量平臺(tái)答：一個(gè)詞一個(gè)詞的解釋吧，光學(xué)：光學(xué)的方法測(cè)量，一般都是非接觸的、精密的測(cè)量。用到技術(shù)一般有干涉、衍射、散射、相位調(diào)制、光譜等等，手段非常多，可以測(cè)量的物理量也非常多。原位：測(cè)量的地點(diǎn)就在樣品所在的位置。與原位。
問(wèn)題6：1。國(guó)際上的二次元光學(xué)影像測(cè)量?jī)x公司2。國(guó)內(nèi)的二次元光學(xué)影像測(cè)量?jī)x
答：1、國(guó)外的影像測(cè)量?jī)x公司：蔡司、海克斯康2、國(guó)內(nèi)的影像測(cè)量?jī)x公司：智泰、萬(wàn)豪、七海、思瑞等等國(guó)外的精度更高，同時(shí)價(jià)格也就更貴，國(guó)外的蔡司、?？怂箍祩?cè)重三坐標(biāo)，國(guó)內(nèi)的側(cè)重光學(xué)影像測(cè)量?jī)x，國(guó)內(nèi)的價(jià)格，質(zhì)量都差不。
問(wèn)題7：光學(xué)影像測(cè)量?jī)x和三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)哪個(gè)好?如果光學(xué)影像測(cè)量?jī)x好的話?什么
答：這個(gè)不能說(shuō)哪個(gè)好不好，要看你測(cè)量些什么東西，物盡其用嘛！三座標(biāo)機(jī)主要測(cè)三維的，不過(guò)這機(jī)器價(jià)格有些貴，國(guó)外品牌幾十萬(wàn)到上百萬(wàn)不等，國(guó)內(nèi)的最少也要十到二十萬(wàn)。三萬(wàn)塊錢(qián)還是買(mǎi)個(gè)影像測(cè)量機(jī)吧，有手動(dòng)跟自動(dòng)之分。
問(wèn)題8：光學(xué)傳感器有哪些類(lèi)型
答：光學(xué)傳感器及儀器是依據(jù)光學(xué)原理進(jìn)行測(cè)量的，它有許多優(yōu)點(diǎn)，如非接觸和非破壞性測(cè)量、幾乎不受干擾、高速傳輸以及可遙測(cè)、遙控等。光學(xué)傳感器主要有：光學(xué)圖像傳感器、透射型光學(xué)傳感器、光學(xué)測(cè)量傳感器、光學(xué)鼠標(biāo)傳感器、反射型光學(xué)。
問(wèn)題9：光譜分析儀屬于光學(xué)測(cè)量嗎
答：當(dāng)然屬于光學(xué)測(cè)量啦。用于判定光學(xué)產(chǎn)品的性能指標(biāo)的。不過(guò)他在其它方面也有應(yīng)用，比如化學(xué)領(lǐng)域利用不同元素對(duì)不同波長(zhǎng)光波的吸收峰不同用于成份分析。
問(wèn)題10：ocd光學(xué)線寬測(cè)量和cd-sem的區(qū)別
光學(xué)測(cè)量平臺(tái)答：但隨著溫濕度變化，隨著電磁環(huán)境變化，可能會(huì)有漂移。因?yàn)镾EM放大和光學(xué)顯微鏡放大完全不同，完全靠掃描線圈和電器元件控制，電器元件的老化，可能會(huì)引起放大倍數(shù)漂移，因此過(guò)兩年需要校準(zhǔn)放大倍數(shù)。另外SEM圖像尺寸測(cè)量精度問(wèn)題。
三 ：