一：
射線探傷檢測(cè)儀技術(shù)百科
問(wèn)題1：超聲波探傷和射線探傷的區(qū)別?
答：射線對(duì)人體有害，故要防護(hù)，且要消耗很多的膠片和藥品，檢測(cè)費(fèi)用較高，而超聲波探傷儀對(duì)人體無(wú)害，且檢測(cè)費(fèi)用較低。射線能檢測(cè)粗晶資料(如奧氏體焊縫等)，而超音波檢測(cè)此類資料堅(jiān)苦。射線：對(duì)人體有輻射。有底片，對(duì)氣孔。
問(wèn)題2：鋼絲繩探傷儀器有哪些叫法
射線探傷檢測(cè)儀答：鋼絲繩探傷儀器有：磁粉探傷儀、超聲波探傷儀、X射線探傷儀、射線數(shù)字化探傷系統(tǒng)四種叫法。1、磁粉探傷儀：通過(guò)將磁粉噴灑到鋼絲繩表面，利用電磁原理檢測(cè)鋼絲繩表面缺陷的儀器。2、超聲波探傷儀：利用超聲波傳導(dǎo)原理，檢測(cè)。
問(wèn)題3：x-ray無(wú)損檢測(cè)設(shè)備x光缺陷探傷設(shè)備x射線檢測(cè)儀那ー種好?
答：本質(zhì)來(lái)說(shuō)都是用X射線進(jìn)行透照，不過(guò)化學(xué)底片一般來(lái)說(shuō)灰霧度更大，就是說(shuō)成像質(zhì)量更差一點(diǎn)，而光學(xué)成像一般來(lái)說(shuō)成像更好，這也是探傷技術(shù)的進(jìn)步。
問(wèn)題4：超聲波探傷和射線探傷的區(qū)別?
答：超聲波探傷和射線探傷的區(qū)別1、反射的特性，如遇到缺陷，缺陷的尺寸等于或大于超聲波波長(zhǎng)時(shí)，則超聲波在缺陷上反射回來(lái)，探傷儀可將反射波顯示出來(lái)；如缺陷的尺寸甚至小于波長(zhǎng)時(shí)，聲波將繞過(guò)射線而不能反射。2、波聲的方向。
問(wèn)題5：工業(yè)用x射線探傷機(jī)對(duì)人體有傷害有多大?有什么預(yù)防措施?安全距離是多
答：射線檢測(cè)職業(yè)人員年允許照射量為20msv。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)對(duì)x射線探傷機(jī)的照射量是有限制的。一般開(kāi)機(jī)電壓為200kv時(shí)候，離射線源一米處空氣中的照射量為25msv/h。就是說(shuō)，你站在離定向的機(jī)器一米處讓他對(duì)著你照10小時(shí)，你的。
問(wèn)題6：什么儀器可以對(duì)鋼材進(jìn)行射線無(wú)損探傷
答：常規(guī)的無(wú)損檢測(cè)方法有：射線檢測(cè)、磁粉（或漏磁）檢測(cè)、滲透檢測(cè)、超聲波檢測(cè)、渦流檢測(cè)。1射線檢測(cè)（RT）應(yīng)用最早的一種無(wú)損檢測(cè)的方法，被廣泛用于金屬和非金屬材料及制品的內(nèi)部缺陷檢驗(yàn)，至少有50多年的歷史。其有無(wú)可。
問(wèn)題7：無(wú)損檢測(cè)X射線檢測(cè)儀需要檢定嗎?
答：不需要。他不是計(jì)量器具。他不出數(shù)據(jù)。檢測(cè)缺欠的尺寸精度靠像質(zhì)計(jì)比較而來(lái)，即像質(zhì)計(jì)可以反應(yīng)檢測(cè)的準(zhǔn)確度。只需要每年做一曝光曲線即可。在國(guó)家計(jì)量器具管理規(guī)定中，不包括射線機(jī)、超聲波探傷儀、磁粉探傷機(jī)。
問(wèn)題8：工業(yè)用x射線探傷機(jī)對(duì)人體有傷害有多大?有什么預(yù)防措施?安全距離是多
答：工業(yè)探傷機(jī)的使用需取得無(wú)損檢測(cè)證書(shū)持證上崗，使用時(shí)需佩戴個(gè)人輻射計(jì)量塊，并攜帶輻射報(bào)警儀，探傷時(shí)需設(shè)置警戒標(biāo)識(shí)。安全距離一般35米以上，有鉛衣或鉛板可以縮短距離。
問(wèn)題9：超聲波探傷與X射線探傷的的原理與區(qū)別?
射線探傷檢測(cè)儀答：運(yùn)用超聲檢測(cè)的方法來(lái)檢測(cè)的儀器稱之為超聲波探傷儀。它的原理是：超聲波在被檢測(cè)材料中傳播時(shí),材料的聲學(xué)特性和內(nèi)部組織的變化對(duì)超聲波的傳播產(chǎn)生一定的影響，通過(guò)對(duì)超聲波受影響程度和狀況的探測(cè)了解材料性能和結(jié)構(gòu)變化的技術(shù)。
問(wèn)題10：什么是射線檢測(cè)原理?
答：作為五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法之一的射線檢測(cè)(Radiology)，在工業(yè)上有著非常廣泛的應(yīng)用。X射線與自然光并沒(méi)有本質(zhì)的區(qū)別，都是電磁波，只是X射線的光量子的能量遠(yuǎn)大于可見(jiàn)光。它能夠穿透可見(jiàn)光不能穿透的物體，而且在穿透物體的。
二：
射線探傷檢測(cè)儀技術(shù)資料
問(wèn)題1：X射線探傷輻射范圍是多少,50米以外會(huì)被輻射到嗎
答：X射線探傷輻射范圍可能5-10米，50米以外會(huì)被輻射到的可能性很小。根據(jù)需要設(shè)置屏蔽小室，屏蔽小室由可拆卸的屏蔽材料構(gòu)件組成。其屏蔽能力應(yīng)根據(jù)所操作的X射線的劑量及距離、障礙物、地理?xiàng)l件等確定。而且X射線探傷機(jī)控制區(qū)。
問(wèn)題2：x射線探傷對(duì)人體的危害
答：如果是兒童或者是懷孕期間的女性最好不要進(jìn)行X光的檢測(cè)，避免導(dǎo)致胎兒出現(xiàn)畸形，平時(shí)可以在權(quán)衡利弊情況下檢測(cè)。射線探傷主要是指利用某種射線來(lái)檢驗(yàn)焊縫及其熱影響區(qū)內(nèi)部缺陷的一種探傷方法，而常用的射線主要有x射線和γ射線。
問(wèn)題3：射線探傷的特點(diǎn)
射線探傷檢測(cè)儀答：稱為電離作用，離子的多少和物質(zhì)吸收的X射線量成正比。通過(guò)空氣或其它物質(zhì)產(chǎn)生電離作用，利用儀表測(cè)量電離的程度就可以計(jì)算x射線的量。檢測(cè)設(shè)備正是由此來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)零件探傷檢測(cè)的。X射線還有其他作用，如感光、熒光作用等。
問(wèn)題4：超聲波探傷儀是不是射線裝置?
射線探傷檢測(cè)儀答：肯定是一種射線的裝置，但是這種射線的放射性都是符合國(guó)家規(guī)定的。
問(wèn)題5：什么情況下使用超聲波探傷?它與射線探傷有何區(qū)別?
答：在不能破壞加工表面的要求下可以使用超聲波儀器或設(shè)備來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。一、方式不同1、超聲波探傷：是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí)，在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來(lái)檢查零件缺陷的一種方法。2、射線。
問(wèn)題6：γ射線探傷
答：,該裝置在γ射線探傷機(jī)工作時(shí)應(yīng)自動(dòng)接通,并能在有人通過(guò)時(shí)自動(dòng)將放射源收回源容器;輻射防護(hù)門(mén)的防護(hù)性能應(yīng)與同側(cè)墻相同,其外5cm處的劑量率應(yīng)小于25μGy·h-1,并安裝門(mén)-機(jī)聯(lián)鎖裝置和工作指示燈;機(jī)房?jī)?nèi)適當(dāng)位置安裝固定式劑量?jī)x。
問(wèn)題7：X射線無(wú)損探傷是什么標(biāo)準(zhǔn)
射線探傷檢測(cè)儀答：好像沒(méi)有單獨(dú)的X射線探傷標(biāo)準(zhǔn)，只有射線探傷標(biāo)準(zhǔn)，包括γ射線的。目前常用的標(biāo)準(zhǔn)是JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)，還有GB3323標(biāo)準(zhǔn)，這樣看你在哪個(gè)行業(yè)了，生產(chǎn)出口產(chǎn)品還有執(zhí)行ASME標(biāo)準(zhǔn)、歐盟標(biāo)準(zhǔn)的。樓上說(shuō)的標(biāo)準(zhǔn)，是探傷機(jī)的制造標(biāo)準(zhǔn)，不是。
問(wèn)題8：加工件內(nèi)部缺陷如何探測(cè)?探傷儀的重要應(yīng)用
射線探傷檢測(cè)儀答：探傷儀從測(cè)量原理不同可以分為：超聲波探傷儀、磁粉探傷儀、渦流探傷儀、射線探傷儀和熒光探傷儀，其中磁粉探傷儀、渦流探傷儀、射線探傷儀主要檢測(cè)工件近表層的缺陷，體積較大不便于攜帶，而且射線對(duì)環(huán)境有污染;隨著科技的發(fā)展。
問(wèn)題9：射線檢測(cè)與超聲波檢測(cè)哪個(gè)靈敏度更高
答：2對(duì)于薄板，由于超聲探頭存在盲區(qū)，精度很低，多采用射線。3射線底片易于保留，有追溯性4超聲探傷機(jī)對(duì)操作人的手法，經(jīng)驗(yàn)要求較射線高。5受環(huán)境溫度影響超聲較射線大。無(wú)損檢測(cè)方法的選擇(1)壓力容器的對(duì)接接頭應(yīng)當(dāng)。
問(wèn)題10：探傷的X射線查傷
答：（1）聲發(fā)射是一種動(dòng)態(tài)檢驗(yàn)方法，聲發(fā)射探測(cè)到的能量來(lái)自被測(cè)試物體本身，而不是象超聲或射線探傷方法一樣由無(wú)損檢測(cè)儀器提供；（2）在一次試驗(yàn)過(guò)程中，聲發(fā)射檢驗(yàn)?zāi)軌蛘w探測(cè)和評(píng)價(jià)整個(gè)結(jié)構(gòu)中活性缺陷的狀態(tài)；（3）由于對(duì)構(gòu)。
三 ：