一：
測(cè)角儀技術(shù)百科
問(wèn)題1：學(xué)生自制測(cè)角儀圖片
答：過(guò)點(diǎn)D作DE⊥AB于點(diǎn)E，∵測(cè)角儀AB中觀測(cè)到旗桿頂端C的仰角為45°，∴∠ADE=45°，BC=4米，∴AE=BC=BD=4米，∴AB=AE+BE=4+1=5米．故答案為5．。
問(wèn)題2：光學(xué)測(cè)角儀由哪幾個(gè)主要部件組成它們的
測(cè)角儀答：1、軸承轉(zhuǎn)起來(lái)要靠軸承2、電樞電樞上放線圈感應(yīng)磁場(chǎng)產(chǎn)生電流或者通電流產(chǎn)生轉(zhuǎn)矩，還有換向器換向作用，然后軸你懂的3、定子主極產(chǎn)生磁場(chǎng)勵(lì)磁作用換向極產(chǎn)生磁場(chǎng)，使換向性能提高機(jī)座支撐作用加上提供磁路4端蓋。
問(wèn)題3：初中測(cè)角儀減少誤差的方法初三的簡(jiǎn)易測(cè)角器就是用量角器底下栓個(gè)繩
答：因?yàn)椴恢谰唧w結(jié)構(gòu)，根據(jù)你說(shuō)的，我認(rèn)為：1）繩子的連接點(diǎn)要在量角器的中心十字線上，要準(zhǔn)確，靈活。2）繩子要細(xì)，便于讀數(shù)。3）使用時(shí)量角器的平面，要和地面垂直。4）觀測(cè)時(shí)要盡量使目標(biāo)對(duì)準(zhǔn)在量角器直邊的延長(zhǎng)線上。
問(wèn)題4：x射線衍射儀的核心是測(cè)角儀圓,它是由什么組成的
測(cè)角儀答：它由輻射源，試樣臺(tái)和探測(cè)器共同組成測(cè)角儀。
問(wèn)題5：自準(zhǔn)直法原理是什么?
測(cè)角儀答：光線通過(guò)位于物鏡焦平面的分劃板后，經(jīng)物鏡形成平行光。平行光被垂直于光軸的反射鏡反射回來(lái)，再通過(guò)物鏡后在焦平面上形成分劃板標(biāo)線像與標(biāo)線重合。當(dāng)反射鏡傾斜一個(gè)微小角度α角時(shí)，反射回來(lái)的光束就傾斜2α角。在測(cè)角儀。
問(wèn)題6：天氣晴朗如何用測(cè)角儀和卷尺測(cè)量一株樹的高度
答：天氣晴朗時(shí)，樹在地面上有太陽(yáng)照射的影子，這時(shí)我們只要用卷尺測(cè)出影子的長(zhǎng)度，用測(cè)角儀測(cè)出樹頂影子與樹頂之間夾角。將樹的高度，樹影子長(zhǎng)度及夾角看作是直角三角形，然后通過(guò)三角函數(shù)公式中正切函數(shù)tan(A)=樹的高度/樹。
問(wèn)題7：晶體測(cè)角
答：晶體的測(cè)角就是利用一定的測(cè)量?jī)x器對(duì)晶體上相鄰晶面的面角進(jìn)行測(cè)量的過(guò)程。晶體測(cè)角常用的儀器主要有兩類，即接觸測(cè)角儀和反射測(cè)角儀。圖3-1接觸測(cè)角儀及其測(cè)角原理（據(jù)WDNesse，2000）1利用接觸測(cè)角儀測(cè)角接。
問(wèn)題8：簡(jiǎn)述光學(xué)測(cè)角儀的應(yīng)用
答：測(cè)量角度校準(zhǔn)標(biāo)定其他側(cè)角度的儀器。
問(wèn)題9：晶體測(cè)量
答：圖2-2晶面a、b的面角（α）與夾角（β）為了便于投影和運(yùn)算，一般所測(cè)的角度，不是晶面的夾角，而是晶面的法線夾角（晶面夾角的補(bǔ)角），此角度稱為面角（圖2-2）。晶體測(cè)量使用的儀器有接觸測(cè)角儀和反射測(cè)角儀兩。
問(wèn)題10：基礎(chǔ)知識(shí)
測(cè)角儀答：測(cè)量晶體時(shí)用接觸測(cè)角儀測(cè)量石英晶體的面角（測(cè)角儀直臂與晶面貼緊,并使測(cè)角儀平面與所測(cè)二晶面的交棱方向垂直），每種面角測(cè)量三次，每次精度讀到1/2°，取其平均數(shù)。注意：所測(cè)數(shù)據(jù)是否符合面角守恒定律?2用吳氏。
二：
測(cè)角儀技術(shù)資料
問(wèn)題1：凹透鏡的焦距怎么測(cè)
答：可以用自準(zhǔn)直法能測(cè)凹透鏡的焦距。當(dāng)發(fā)光點(diǎn)（物）處在凸透鏡的焦平面時(shí)，它發(fā)出的光線通過(guò)透鏡后將為一束平行光，若與光抽垂直的平面鏡將此平行光反射回去，反射光再次通過(guò)透鏡后仍會(huì)聚于透鏡的焦平面上，其會(huì)聚點(diǎn)將在。
問(wèn)題2：怎樣用測(cè)角儀測(cè)量塔高?
答：測(cè)塔頂?shù)难鼋?，再測(cè)出測(cè)角儀距塔的距離，解三角形便可得到塔高。
問(wèn)題3：光學(xué)測(cè)角儀的調(diào)整與使用思考題
測(cè)角儀答：http://wenkubaiducom/view/1c27c2ca4028915f804dc223html里面有。
問(wèn)題4：晶體測(cè)角術(shù)
答：由面角守恒定律可知，只要了解了各晶面間的面角關(guān)系，就有可能恢復(fù)出晶體的理想幾何外形來(lái)。為此，需借助于專門的測(cè)角儀來(lái)進(jìn)行實(shí)際測(cè)量，以獲得面角的數(shù)據(jù)。圖29Penfield-B型接觸測(cè)角儀對(duì)于晶面較大的晶體，其面角值。
問(wèn)題5：請(qǐng)問(wèn)PXRD是什么?做什么用途?
答：PXRD是多晶X射線衍射儀英文縮寫，是利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來(lái)分析材料的晶體結(jié)構(gòu)、晶格參數(shù)、晶體缺陷、不同晶相的含量及內(nèi)應(yīng)力的方法。儀器主要由X射線發(fā)生器、測(cè)角儀、探測(cè)器、控制操作與數(shù)據(jù)處理計(jì)算機(jī)系統(tǒng)組成。主要。
問(wèn)題6：全站儀房f1,f2,f3,f4的牌子
答：F1F2F3F4是一個(gè)全站儀房的品牌，它是一個(gè)全球性的品牌，他們的產(chǎn)品系列覆蓋了從小型到大型全站儀的所有需求。F1F2F3F4的全站儀房都采用了最先進(jìn)的技術(shù)，擁有高精度和高可靠性。它們具有出色的精度和穩(wěn)定性，可以滿足高要求的。
問(wèn)題7：自準(zhǔn)法讀出來(lái)的左一是用角度嗎
答：自準(zhǔn)法讀出來(lái)的左一是用角度。自準(zhǔn)直法，可測(cè)量材料折射率角度。當(dāng)反射鏡傾斜一個(gè)微小角度α角時(shí)，反射回來(lái)的光束就傾斜2α角。在測(cè)角儀上也可采用自準(zhǔn)直法測(cè)量材料的折射率，光線在棱鏡前表面的入射角為i，如果折射。
問(wèn)題8：連續(xù)掃描和步進(jìn)掃描的優(yōu)缺點(diǎn)
答：連續(xù)掃描和步進(jìn)掃描的優(yōu)缺點(diǎn)分別是：1、連續(xù)掃描優(yōu)點(diǎn)是：可以用測(cè)角儀從起始的2θ到終止的2θ進(jìn)行勻速掃描。并且通過(guò)數(shù)據(jù)點(diǎn)間隔每隔多少度取一個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)。掃描速度是指單位時(shí)間內(nèi)測(cè)角儀轉(zhuǎn)過(guò)的角度。缺點(diǎn)是：不當(dāng)?shù)慕M合會(huì)。
問(wèn)題9：iqoo有沒有測(cè)距功能
答：iQOO機(jī)型不支持3D測(cè)量功能。
問(wèn)題10：在離旗桿20米處的地方用測(cè)角儀測(cè)得旗桿頂?shù)难鼋菫棣?如果測(cè)角儀的高度
答：20tanα+15根據(jù)題意可得：旗桿比儀器高20tanα，測(cè)角儀高為15米，故旗桿的高為（20tanα+15）米．。
三 ：