一：
x熒光技術(shù)百科
問題1：X射線熒光譜與伽馬能譜的區(qū)別
x熒光答：是指物質(zhì)原子經(jīng)X射線(激發(fā)能量)照射后,原子內(nèi)層電子被擊出,變成激發(fā)態(tài),在退激過程中,外層電子會補(bǔ)充到內(nèi)層,由此產(chǎn)生的能量差以X射線的方式發(fā)射出來這個X射線俗稱x熒光同時原子序數(shù)不同,需要的激發(fā)能量不同,產(chǎn)生的X熒光。
問題2：現(xiàn)場X熒光測量方法
答：隨著X熒光儀器、設(shè)備及工作方法的不斷改進(jìn)和完善，野外X熒光測量已經(jīng)成為一種在現(xiàn)場快速評價及查證異常的有效方法。表4-5列出了部分化學(xué)元素在各類巖石中的平均含量及野外X熒光測量的分析檢出限，對于大多數(shù)元素，檢出限值已經(jīng)。
問題3：X熒光光譜儀對人體有哪些危害?
x熒光答：應(yīng)該是使用X-射線（X-Ray）的機(jī)器吧，在慢性小劑量連續(xù)照射的情況下，會造成慢性放射損傷，主要由于X線職業(yè)人員平日不注意防護(hù)，較長時間接受超允許劑量所引起的。電離輻射不僅能引起全身性急慢性放射損傷，而且也能引起局部的。
問題4：X熒光光譜儀的分類
x熒光答：X熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。以X熒光的波粒二象性中波長特征為原理的稱為波長色散型，以能量特征為原理的稱為能量色散型。
問題5：樣品分析的X熒光方法
x熒光答：標(biāo)準(zhǔn)工作曲線的制作是：選一套含量由低到高的標(biāo)準(zhǔn)樣品，其元素組成與待測樣品相近似，在與樣品測量相同的條件下進(jìn)行測量；獲得標(biāo)準(zhǔn)樣品含量與X熒光計(jì)數(shù)率的校正曲線，由此曲線就可以根據(jù)相同條件下的樣品測量的熒光計(jì)數(shù)率，在。
問題6：x射線熒光分析儀的輻射對人體危害大嗎?
答：第一:能量色散型的X射線有低功率X射線管或者放射源產(chǎn)生，現(xiàn)在一般不會有什么問題的，特別是X光管產(chǎn)生X射線的，不會有問題，但是用放射源的要注意防護(hù)第二:波長色散X熒光光譜儀，特別是現(xiàn)在幾千瓦的儀器，在安裝、維修中要。
問題7：X射線熒光光譜儀
答：X熒光分析是一種快速、無損、多元素同時測定的現(xiàn)代測試技術(shù),已廣泛應(yīng)用于寶石礦物、材料科學(xué)、地質(zhì)研究、文物考古等諸多領(lǐng)域。一、基本原理X射線是一種波長(λ=0001～10nm)很短的電磁波,其波長介于紫外線和y射線之間。在高真空的X。
問題8：X射線熒光譜與伽馬能譜的區(qū)別
x熒光答：產(chǎn)生的X熒光射線能量也不同X射線熒光譜分析儀真是利用這一特點(diǎn)來分析物質(zhì)中各種元素的含量伽馬能譜是直接對放射性同位素進(jìn)行測量分析的儀器,主要針對放射性物質(zhì)或裝置輻射量進(jìn)行測量比如說測量建筑材料中的鐳釷鉀。
問題9：X熒光輻射對人體的輻射有多大,危害有哪些
答：一種是能量色散型，一種是波長色散型。第一：能量色散型的X射線有低功率X射線管或者放射源產(chǎn)生，現(xiàn)在一般不會有什么問題的，特別是X光管產(chǎn)生X射線的，不會有問題，但是用放射源的要注意防護(hù)第二：波長色散X熒光光譜儀。
問題10：X射線熒光分析的方法特點(diǎn)
x熒光答：X射線熒光分析法的特點(diǎn)與適應(yīng)范圍是（1）適應(yīng)范圍廣除了H，He，Li，Be外，可對周期表中從5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。（2）操作快速方便在短時間內(nèi)可同時完成多種元素的分析。（3）不受試樣形狀和大小的。
二：
x熒光技術(shù)資料
問題1：X射線熒光光譜法
x熒光答：方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶劑，將鎢精礦粉和純WO3作高倍稀釋熔融制成玻璃片，按WLα分析線X射線熒光光譜儀測定其強(qiáng)度值，換算成相對強(qiáng)度即可得出試樣中三氧化鎢的含量。此法適用于鎢精礦中w(WO3)為05%～80%的。
問題2：X射線熒光的產(chǎn)生
答：釋放出來的能量以電磁波的形式向四周發(fā)射，其波長恰好在X射線的波長范圍內(nèi)(0001～10nm)。為了與照射物質(zhì)的X射線(初級X射線)相區(qū)別，將被照射物質(zhì)發(fā)出的X射線(二次X射線)稱為熒光X射線(熒光即光致發(fā)光之意)。對于K層。
問題3：x射線熒光能譜能不能測出c含量
x熒光答：莫斯萊(HGMoseley)發(fā)現(xiàn)，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：λ=K(Z-s)-2這就是莫斯萊定律，式中K和S是常數(shù)，因此,只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性。
問題4：熒光效應(yīng):能幫我簡述X先透視原理嗎?看這些字我還是不知道X線透視的原
x熒光答：X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。從原子物理學(xué)的知識我們知道，對每一種化學(xué)元素的。
問題5：X射線熒光激發(fā)效率
答：在實(shí)際工作中，X射線熒光激發(fā)是一種宏觀現(xiàn)象，是光子束照射在厚層樣品或原物質(zhì)層表面(土壤、巖石、金屬非金屬物體等)，都是照射在許多原子上，在內(nèi)殼層產(chǎn)生光電效應(yīng)(和散射)的總結(jié)果。這些入射光子和受激發(fā)元素的熒光，都要。
問題6：X射線熒光光譜法測定鋁土礦中主、次、痕量元素
答：表505各元素組分測定范圍儀器波長色散X射線熒光光譜儀，端窗銠靶X射線管(3kW以上)。具有校準(zhǔn)、校正功能完備分析軟件。高溫熔樣機(jī)(溫度1150℃以上)。鉑金合金坩堝(Pt95%+Au5%)。試劑混合熔劑:四硼酸鋰(67%)和偏。
問題7：請問XRF—X射線熒光光譜法與ICP—等離子光譜法的主要區(qū)別是什么?哪個更
答：XRF是X熒光光譜。分為波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF），檢測信號都是二次X射線，波長色散型是通過晶體將不同波長的射線分開，達(dá)到分辨特征譜線的效果，而能譜是通過檢測器對能級的不同進(jìn)行分辨，就現(xiàn)在技術(shù)。
問題8：x射線熒光作用形成原理
答：余下的空穴會由更外層的電子進(jìn)行補(bǔ)充。在電子補(bǔ)充（躍遷）的過程中，會以光子形式輻射出能量，這種光子就形成了X熒光。當(dāng)這種熒光被探測器檢測到時，我們就能看到樣品中各元素的組成成份。
問題9：用X射線熒光分析儀能分析碳含量和硼含量嗎?
x熒光答：原則上都可以。---對輕原子像C,B等，更方便的是用俄歇譜。
問題10：X射線熒光激發(fā)效率
答：在實(shí)際工作中，X射線熒光激發(fā)是一種宏觀現(xiàn)象，是光子束照射在厚層樣品或原物質(zhì)層表面（土壤、巖石、金屬非金屬物體等），都是照射在許多原子上，在內(nèi)殼層產(chǎn)生光電效應(yīng)（和散射）的總結(jié)果。這些入射光子和受激發(fā)元素的熒光。
三 ：